X射線熒光光譜儀是一種利用X射線照射物質(zhì)后產(chǎn)生熒光現(xiàn)象的儀器,可以用于元素分析和表面化學(xué)分析。其工作原理如下:X射線照射待檢樣品表面,激發(fā)原子內(nèi)部電子躍遷,產(chǎn)生特定波長的熒光輻射,熒光輻射被探測(cè)器檢測(cè)并轉(zhuǎn)化成電信號(hào),再經(jīng)過信號(hào)處理裝置分析、處理和記錄,通過熒光輝譜儀分析熒光發(fā)射的波長和強(qiáng)度,可以確定樣品中的元素種類和含量。X射線熒光光譜儀具有高靈敏度、高準(zhǔn)確度和非破壞性的特點(diǎn),廣泛應(yīng)用于材料科學(xué)、地質(zhì)學(xué)、金屬分析等領(lǐng)域。
X熒光光譜儀(XRF)由激發(fā)源(X射線管)和探測(cè)系統(tǒng)構(gòu)成。X射線管產(chǎn)生入射X射線(一次X射線),激發(fā)被測(cè)樣品,產(chǎn)生X熒光(二次X射線),探測(cè)器對(duì)X熒光進(jìn)行檢測(cè)。
XRF用X光或其他激發(fā)源照射待分析樣品,樣品中的元素之內(nèi)層電子被擊出后,造成核外電子的躍遷,在被激發(fā)的電子返回基態(tài)的時(shí)候,會(huì)放射出特征X光;不同的元素會(huì)放射出各自的特征X光,具有不同的能量或波長特性。檢測(cè)器(Detector)接受這些X光,儀器軟件系統(tǒng)將其轉(zhuǎn)為對(duì)應(yīng)的信號(hào)。這一現(xiàn)象廣泛用于元素分析和化學(xué)分析,特別是在研究金屬,玻璃,陶瓷和建筑材料,以及在地球化學(xué)研究、法醫(yī)學(xué)、電子產(chǎn)品進(jìn)料品管(EURoHS)和考古學(xué)等領(lǐng)域,在某種程度上與原子吸收光譜儀互補(bǔ),減少工廠附設(shè)的品管實(shí)驗(yàn)室之分析人力投入。
X射線熒光光譜儀的產(chǎn)品特點(diǎn):
作界面簡(jiǎn)單,測(cè)量方便,快捷
無損檢測(cè),在無標(biāo)準(zhǔn)樣品時(shí)亦可準(zhǔn)確分析
采用139±5eV的高精度分辨率,保證數(shù)據(jù)測(cè)量的精度
能夠檢測(cè)鹵族元素的準(zhǔn)確含量
同置高清晰攝像頭,可幫助客戶判斷測(cè)量的部位
電制冷型的X光管配合光管保養(yǎng)程序,散熱更好,并能有效的延長X光管的壽命
外觀高貴大方,加大儀器內(nèi)部空間,儀器內(nèi)部通風(fēng)性優(yōu),并有效屏蔽電磁干擾
采用雙峰位快速自動(dòng)校準(zhǔn)。
自動(dòng)譜線識(shí)別、多元素同時(shí)定性定量分析、讓用戶方便認(rèn)識(shí)分析樣品的組成的定量分析算法,包含F(xiàn)P法、檢量線法、經(jīng)驗(yàn)系數(shù)法、理論系數(shù)法、神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)算法等,客戶可根據(jù)自已的要求進(jìn)行二次開發(fā),自行開發(fā)任意多個(gè)分析方法,設(shè)置了自動(dòng)安全防護(hù)開關(guān),以確保用戶安全使用。